AUTOSAR Flash Test 模块解析文档
AUTOSAR 经典平台内存硬件抽象层模块详解
目录
- 1. 概述
- 1.1 Flash Test 模块简介
- 1.2 模块作用和定位
- 2. 架构设计
- 2.1 整体架构
- 2.2 状态机设计
- 3. 执行流程
- 3.1 后台测试序列
- 3.2 前台测试序列
- 4. 配置结构
- 4.1 模块配置详解
- 5. 总结
1. 概述
1.1 Flash Test 模块简介
Flash Test 模块是 AUTOSAR 经典平台内存硬件抽象层的重要组件，提供了对不变存储器（如 Flash、程序 SRAM、锁定缓存等）的测试功能。该模块允许在 MCU 初始化后的任何时间执行测试，支持前台和后台两种工作模式，使得系统能够灵活安排测试执行时机，满足不同的安全需求。
Flash Test 驱动需要集成到整体安全概念中使用，仅依靠该模块本身无法提供所需的完整诊断覆盖。其主要特点包括：
- 提供对嵌入式或映射连接到微控制器的不变存储器测试算法
- 支持数据/程序闪存、程序 SRAM、锁定缓存等多种存储介质测试
- 可配置测试算法，以满足系统的安全要求
- 提供前台和后台两种工作模式
1.2 模块作用和定位
Flash Test 模块在 AUTOSAR 架构中位于内存硬件抽象层（MHAL），其作用是：
